2024年1月22日发(作者：仵雅云)
实达终端机具安装及维护手册
Version：1.0
（STAR-56II系列）
1
目 录
第一章
第二章
第三章
第四章
产品功能介绍---------------------------------------（3）
产品硬件介绍---------------------------------------（6）
产品自检方式---------------------------------------（7）
常见故障及解决方法---------------------------------（11）
2
第一章 产品功能介绍
一、产品简介
该产品基于全新的设计理念，外观精巧，结构合理，具备超强的集成能力。产品可同时磁条读写器、接触/非接触式IC卡、二代身份证阅读器、指纹识别仪等多种模块。产品以模块化的设计理念，采用了高品质、低功耗、长寿命的功能模块，从而实现了产品超强的稳定性、兼容性以及便捷的维护性。
z 主要功能
A. 银行卡磁卡读写功能
B. 银行IC卡应用功能
C. 二代身份证信息读取功能
D. 指纹识别功能
z 产品特点
A. 磁卡机部分
1、磁头采用高抗磁铁硅铝磁头，保证了银行卡及存折在读写作业中的稳定可靠。高抗磁铁硅铝磁头具有以下特点：
1) 硬度高：不易磨损，寿命长。
2) 导磁率高：保证写磁稳定可靠。
3) 杂质、气孔少：长时间使用不易生锈
2、编码器。光电管采用著名传感器品牌“霍尼韦尔”，使编码器的使用寿命大幅提升。
3、读磁头对面的压力机构。采用磁带压带滚轮设计，大大减小了对卡片的划伤问题，增强了刷卡的稳定性。
4、磁卡导槽防磨设计，导槽底部采用金属件，避免长期刷卡、刷折对导槽的造成磨损
B. 指纹模块部分
1、指纹模块核心部件是指纹传感器，采用的是国际主流瑞典FPC传感器。该传感器有以下几个优点：
1) 表面采用超强防刮保护表面涂层，保护层是同类厚度的10-25倍，耐磨100万次；
3
2) 抗静电ESD>±15KV ，达到4 IEC 61000-4-2 标准；
3) 高品质的传感器确保了FPC反射式探测信号增强，不仅提高了指纹识别性能，而且还增强了保护层的厚度；
4) 耐受温度 -90~100℃，极速变化 -70至85 ℃。
2、在结构设计上，为保护指纹传感器，在上表面采用下沉式传感器保护形势，以备大物坠落，损坏传感器；在背面采用平整托板托住、固定，防止手指按压时受力不均，导致传感器碎裂。
C. 接触/非接触IC卡读写器部分
1、可读写接触式IC卡、非接触式IC卡等多类型卡片
2、符合ISO7816标准、符合PBOC2.0标准，符合EMV标准
3、IC卡座采用国际知名品牌厂商卡座，有效保证IC卡座使用寿命。
4、射频模块在非工作模式处于待机状态，降低整机功耗和辐射，提高产品使用寿命。
D. 其他部分
1、底部采用电池仓式设计，方便进行DIP开关设置和SAM卡的装卸。
2、关键器件采用低功耗器件，最大限度减少热量释放。
3、各模块布局合理，在模块与模块之间预留空间，以保证整机良好的散热性。
4、支持FLASH程序升级，设备升级更为便捷。
5、支持应用程序扩展，充分满足用户应用需求。
6、提供USB或RS232接口等多种接口类型，适用度更为广泛。
二、产品技术指标一览表
STAR-56 Ⅱ多功能金卡读写器技术规格指标
序号
1
2
3
4
5
6
接触式磁条读写模块
指标项
磁头
磁头寿命
磁条读写标准
划卡速度
磁头记录密度
模块标准
高抗磁铁硅铝磁头
≥60万次
符合IBM、ISO、ANSI、DIN标准、符合ISO/ANSI
ISO7810/12/13，支持高低抗磁磁条的读写
10～100cm/s
第二磁道75/210BPI, 第三磁道210BPI
符合ISO7816标准、符合PBOC2.0标准，符合EMV标准
指标描述
4
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
IC卡读写模块
IC卡卡座
支持卡种
卡座寿命
模块标准
1或2个
各类存储卡、CPU卡
大于10万次
符合ISO/IEC 14443 Type A和Type B、符合PBOC2.0标准13.56MHZ
0-50mm
支持符合ISO/IEC 14443 Type A和Type B协议的各类非接触式邻近卡
1或多个（最多4个）
同时支持ISO/IEC 14443 Type A和Type B标准
0-50mm
具备公安部公布中标厂商的集成生产授权
采用国内符合公安部授权生产的合格产品模块
详见附录B：指纹模块技术指标
采用国内知名品牌指纹仪模块
RS232
USB 2.0
不小于5000小时
9600bps或更高
各模块具备工作状态指示灯及蜂鸣器提示功能
工作温度：0℃～45℃；工作湿度：10%～90%
符合人体工程学，方便柜员操作，228x91.5x96（mm）
非接触式IC卡读写模块
工作频率
读卡距离
支持卡类
SAM卡 SAM卡座
射频技术
二代身份证识别模块
读卡距离
资质要求
集成范围
指纹仪模块
通讯
接口
（单选）
模块指标
集成范围
串口方式
USB方式
平均无故障工作时间
串口传输速率
操作提示
工作环境
外观设计及尺寸
5
第二章 产品硬件介绍
一、 产品使用平台： ARM CortexTM-M3
实现的功能：磁卡的读写，指纹的读取和验证，二代证的识别和验证，IC卡的读写(包括一个非接，两个接触式IC卡)，SAM卡的读写(可支持到4个)
1、STAR-56II总体结构图及说明如下：
2、主板系统结构框图
串口电平转换芯片用的是SP3220。指纹，磁卡，二代证，MCU全都是走的TTL电平。
6
3、电源框图
外接12V适配器串口5V(PIN 1)
AMS1117-3.3
TPS54325 工作5V
3.3V
各个模块所需的电源是5V，3.3V是给MCU供电的。其中MCU核电压是1.28V，是3.3V经过MCU自身内部LDO出来的。
第三章 产品自检方式介绍
1. 将公司提供的” ”测试软件解压到电脑硬盘目录下，比如：D: 工厂测试
2. 执行测试步骤，具体如下：
2.1双击工厂测试目录下的文件。
2.2程序运行界面如下：
7
2.3 确认stat-56II与电脑串口已经连接好，默认端口是“COM1”，若设备不是连到“COM1”，则必须在选择串口下拉列表中选择所连接的端口：
2.4 选择9600的波特率。
3. 各个模块测试
3.1 磁卡测试
如上图所示，首先在测试次数输入想要测试的次数，单次测试使用默认值1，磁卡主要有读2道、读3道、读23道、写2道、写3道、写23道测试，只要点击相应按钮就可选择你想要的测试功能，写磁卡有默认的输入数据，可不用再输入，测试结果在最顶行的当前状态提示显示，测试成功显示测试成功，失败显示测试失败。多次测试的结果看对应组合框中成功次数跟失败次数。
3.2 IC卡测试
同理步骤，单次测试使用默认值测试次数1，多次则手动自行输入次数，IC卡测试分为接触IC卡1、卡2、非接IC卡、SAM1、SAM2、SAM3、SAM4，相应测试卡点击相应按钮测试功能，同样结果看顶行的当前状态提示，多次测试看成功次数与失败次数。
3.3 指纹测试
8
只要点击测试就OK，首先设置会进行模板采集，需要按指3次，每次灯亮按指，按完拿开，等灯亮再次按指，3次模板采集后还有次验证指纹，同样灯亮时候按指，该流程总共按指4次，每次灯亮按指，灯灭拿开，灯亮再次按指，依次4次，最后顶行状态提示显示测试结果。
3.4 二代证测试
二代证测试时，默认选择9600的波特率，如果9600的波特率出现读失败时，则点击“获取波特率按钮”，出现如下的界面：
当前的状态提示是：获取波特率。如果模块的波特率是115200，则获取完波特率界面如下：
9
获取波特率对应框显示是：115200。根据各版本特点要求，如果版本中出厂要求二代证是115200波特率的，则将界面最上面的波特率改成115200。如下所示，然后点击二代证测试中的测试按钮。
如果版本中出厂要求二代证是9600波特率，则需设置波特率，如下图所示，应将设置波特率对应的值改成9600。然后点击“设置波特率”，
界面最上方的波特率也应设置成9600，如下图所示。然后点击二代证测试部分中的“测试按钮”
备注：磁卡、指纹、IC卡、非接触IC卡、SAM卡都是以9600波特率不变测试，对于二代证模块波特率没有特殊说明的版本均要求采用9600波特率来测试并出厂；如特殊版本要求二代证模块出厂波特率为115200，则按照115200波特率来测试出厂。
10
第四章 故障及解决方法
Q：磁卡工作不正常
A：STAR-56II机器后部有DIP开关，检查开关状态是否被修改，导致命令解析错误
磁卡拨码开关说明如下：
状态内容
SW1波特率
SW2密度
SW3格式
SW4分隔符
SW5校验
SW6错误码
9600BPS
75BPI（低密）
B/F（ISO格式）
不转译（不转译 = '）
无校验
00000（5个零）
OFF
1200BPS
210BPI（高密）
BA/C（IBM格式）
转译（转译 = '）
偶校验
0X7F（16进制）
ON
该机芯上有8个DIP开关，其中通用版的机芯将SW7和SW8保留（不起作用），并且缺省状态下8个DIP开关全部为OFF。
磁卡默认情况下，拨码开关都是处于OFF状态的，若磁卡读写都失败的话，首先检查拨码开关是否处于处于默认的位置。如果，例如读2道一直不成功，其他的读写操作都没问题。则可判定是磁卡的问题。
Q：上电后，出现连续蜂鸣器的“嘀嘀嘀”响
A：该响声为指纹模块上电自检失败，拆开机器，检查指纹模块与主板连接线接触是否不良，重新固定连接线，若故障依旧，则更换指纹模块。
Q：STAR-56II无电不工作
A：先检查外部供电采用的是终端供电5V还是外置12V电压。
是否有工作电压+5V
11
Q：主板时钟有无工作的简单判断方法
A：MCU用的晶振是８Ｍ的，如果程序没有运行起来，则可能晶振没有输出，可用万用表做简单的判断：单片机没工作时，晶振Y1两个脚的电压值大约为2.7V，有工作时大约为1.6V
非接触芯片MFRC531晶振Y3，接用的是13.56MHz的晶振。
非接有工作时晶振两脚为2.65V，没工作时其中一只脚为5V，一只脚为0V
若电压不正常，可更换晶振。
附件：STAR-56版本说明：通用(或特殊版本) II/InSn / N / ID / F / G /R（U）
版本是根据具体的设备配置而定的，具体的配置说明如下：
通用就直接打上通用（特殊版本，如：浙江农行 II/I2S2/N/G/R）
II代表56II型
I代表接触式IC卡
S 代表SAM卡
n代表IC卡、SAM卡的数量（I2S2就代表2个接触式IC卡，2个SAM卡）
N代表非接触式IC卡，
ID代表二代证阅读器模块
F代表指纹模块
WF代表韦尔指纹模块
G代表高抗磁模块
R代表串口版
U代表U口版
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2024年1月22日发(作者：仵雅云)
实达终端机具安装及维护手册
Version：1.0
（STAR-56II系列）
1
目 录
第一章
第二章
第三章
第四章
产品功能介绍---------------------------------------（3）
产品硬件介绍---------------------------------------（6）
产品自检方式---------------------------------------（7）
常见故障及解决方法---------------------------------（11）
2
第一章 产品功能介绍
一、产品简介
该产品基于全新的设计理念，外观精巧，结构合理，具备超强的集成能力。产品可同时磁条读写器、接触/非接触式IC卡、二代身份证阅读器、指纹识别仪等多种模块。产品以模块化的设计理念，采用了高品质、低功耗、长寿命的功能模块，从而实现了产品超强的稳定性、兼容性以及便捷的维护性。
z 主要功能
A. 银行卡磁卡读写功能
B. 银行IC卡应用功能
C. 二代身份证信息读取功能
D. 指纹识别功能
z 产品特点
A. 磁卡机部分
1、磁头采用高抗磁铁硅铝磁头，保证了银行卡及存折在读写作业中的稳定可靠。高抗磁铁硅铝磁头具有以下特点：
1) 硬度高：不易磨损，寿命长。
2) 导磁率高：保证写磁稳定可靠。
3) 杂质、气孔少：长时间使用不易生锈
2、编码器。光电管采用著名传感器品牌“霍尼韦尔”，使编码器的使用寿命大幅提升。
3、读磁头对面的压力机构。采用磁带压带滚轮设计，大大减小了对卡片的划伤问题，增强了刷卡的稳定性。
4、磁卡导槽防磨设计，导槽底部采用金属件，避免长期刷卡、刷折对导槽的造成磨损
B. 指纹模块部分
1、指纹模块核心部件是指纹传感器，采用的是国际主流瑞典FPC传感器。该传感器有以下几个优点：
1) 表面采用超强防刮保护表面涂层，保护层是同类厚度的10-25倍，耐磨100万次；
3
2) 抗静电ESD>±15KV ，达到4 IEC 61000-4-2 标准；
3) 高品质的传感器确保了FPC反射式探测信号增强，不仅提高了指纹识别性能，而且还增强了保护层的厚度；
4) 耐受温度 -90~100℃，极速变化 -70至85 ℃。
2、在结构设计上，为保护指纹传感器，在上表面采用下沉式传感器保护形势，以备大物坠落，损坏传感器；在背面采用平整托板托住、固定，防止手指按压时受力不均，导致传感器碎裂。
C. 接触/非接触IC卡读写器部分
1、可读写接触式IC卡、非接触式IC卡等多类型卡片
2、符合ISO7816标准、符合PBOC2.0标准，符合EMV标准
3、IC卡座采用国际知名品牌厂商卡座，有效保证IC卡座使用寿命。
4、射频模块在非工作模式处于待机状态，降低整机功耗和辐射，提高产品使用寿命。
D. 其他部分
1、底部采用电池仓式设计，方便进行DIP开关设置和SAM卡的装卸。
2、关键器件采用低功耗器件，最大限度减少热量释放。
3、各模块布局合理，在模块与模块之间预留空间，以保证整机良好的散热性。
4、支持FLASH程序升级，设备升级更为便捷。
5、支持应用程序扩展，充分满足用户应用需求。
6、提供USB或RS232接口等多种接口类型，适用度更为广泛。
二、产品技术指标一览表
STAR-56 Ⅱ多功能金卡读写器技术规格指标
序号
1
2
3
4
5
6
接触式磁条读写模块
指标项
磁头
磁头寿命
磁条读写标准
划卡速度
磁头记录密度
模块标准
高抗磁铁硅铝磁头
≥60万次
符合IBM、ISO、ANSI、DIN标准、符合ISO/ANSI
ISO7810/12/13，支持高低抗磁磁条的读写
10～100cm/s
第二磁道75/210BPI, 第三磁道210BPI
符合ISO7816标准、符合PBOC2.0标准，符合EMV标准
指标描述
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IC卡读写模块
IC卡卡座
支持卡种
卡座寿命
模块标准
1或2个
各类存储卡、CPU卡
大于10万次
符合ISO/IEC 14443 Type A和Type B、符合PBOC2.0标准13.56MHZ
0-50mm
支持符合ISO/IEC 14443 Type A和Type B协议的各类非接触式邻近卡
1或多个（最多4个）
同时支持ISO/IEC 14443 Type A和Type B标准
0-50mm
具备公安部公布中标厂商的集成生产授权
采用国内符合公安部授权生产的合格产品模块
详见附录B：指纹模块技术指标
采用国内知名品牌指纹仪模块
RS232
USB 2.0
不小于5000小时
9600bps或更高
各模块具备工作状态指示灯及蜂鸣器提示功能
工作温度：0℃～45℃；工作湿度：10%～90%
符合人体工程学，方便柜员操作，228x91.5x96（mm）
非接触式IC卡读写模块
工作频率
读卡距离
支持卡类
SAM卡 SAM卡座
射频技术
二代身份证识别模块
读卡距离
资质要求
集成范围
指纹仪模块
通讯
接口
（单选）
模块指标
集成范围
串口方式
USB方式
平均无故障工作时间
串口传输速率
操作提示
工作环境
外观设计及尺寸
5
第二章 产品硬件介绍
一、 产品使用平台： ARM CortexTM-M3
实现的功能：磁卡的读写，指纹的读取和验证，二代证的识别和验证，IC卡的读写(包括一个非接，两个接触式IC卡)，SAM卡的读写(可支持到4个)
1、STAR-56II总体结构图及说明如下：
2、主板系统结构框图
串口电平转换芯片用的是SP3220。指纹，磁卡，二代证，MCU全都是走的TTL电平。
6
3、电源框图
外接12V适配器串口5V(PIN 1)
AMS1117-3.3
TPS54325 工作5V
3.3V
各个模块所需的电源是5V，3.3V是给MCU供电的。其中MCU核电压是1.28V，是3.3V经过MCU自身内部LDO出来的。
第三章 产品自检方式介绍
1. 将公司提供的” ”测试软件解压到电脑硬盘目录下，比如：D: 工厂测试
2. 执行测试步骤，具体如下：
2.1双击工厂测试目录下的文件。
2.2程序运行界面如下：
7
2.3 确认stat-56II与电脑串口已经连接好，默认端口是“COM1”，若设备不是连到“COM1”，则必须在选择串口下拉列表中选择所连接的端口：
2.4 选择9600的波特率。
3. 各个模块测试
3.1 磁卡测试
如上图所示，首先在测试次数输入想要测试的次数，单次测试使用默认值1，磁卡主要有读2道、读3道、读23道、写2道、写3道、写23道测试，只要点击相应按钮就可选择你想要的测试功能，写磁卡有默认的输入数据，可不用再输入，测试结果在最顶行的当前状态提示显示，测试成功显示测试成功，失败显示测试失败。多次测试的结果看对应组合框中成功次数跟失败次数。
3.2 IC卡测试
同理步骤，单次测试使用默认值测试次数1，多次则手动自行输入次数，IC卡测试分为接触IC卡1、卡2、非接IC卡、SAM1、SAM2、SAM3、SAM4，相应测试卡点击相应按钮测试功能，同样结果看顶行的当前状态提示，多次测试看成功次数与失败次数。
3.3 指纹测试
8
只要点击测试就OK，首先设置会进行模板采集，需要按指3次，每次灯亮按指，按完拿开，等灯亮再次按指，3次模板采集后还有次验证指纹，同样灯亮时候按指，该流程总共按指4次，每次灯亮按指，灯灭拿开，灯亮再次按指，依次4次，最后顶行状态提示显示测试结果。
3.4 二代证测试
二代证测试时，默认选择9600的波特率，如果9600的波特率出现读失败时，则点击“获取波特率按钮”，出现如下的界面：
当前的状态提示是：获取波特率。如果模块的波特率是115200，则获取完波特率界面如下：
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获取波特率对应框显示是：115200。根据各版本特点要求，如果版本中出厂要求二代证是115200波特率的，则将界面最上面的波特率改成115200。如下所示，然后点击二代证测试中的测试按钮。
如果版本中出厂要求二代证是9600波特率，则需设置波特率，如下图所示，应将设置波特率对应的值改成9600。然后点击“设置波特率”，
界面最上方的波特率也应设置成9600，如下图所示。然后点击二代证测试部分中的“测试按钮”
备注：磁卡、指纹、IC卡、非接触IC卡、SAM卡都是以9600波特率不变测试，对于二代证模块波特率没有特殊说明的版本均要求采用9600波特率来测试并出厂；如特殊版本要求二代证模块出厂波特率为115200，则按照115200波特率来测试出厂。
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第四章 故障及解决方法
Q：磁卡工作不正常
A：STAR-56II机器后部有DIP开关，检查开关状态是否被修改，导致命令解析错误
磁卡拨码开关说明如下：
状态内容
SW1波特率
SW2密度
SW3格式
SW4分隔符
SW5校验
SW6错误码
9600BPS
75BPI（低密）
B/F（ISO格式）
不转译（不转译 = '）
无校验
00000（5个零）
OFF
1200BPS
210BPI（高密）
BA/C（IBM格式）
转译（转译 = '）
偶校验
0X7F（16进制）
ON
该机芯上有8个DIP开关，其中通用版的机芯将SW7和SW8保留（不起作用），并且缺省状态下8个DIP开关全部为OFF。
磁卡默认情况下，拨码开关都是处于OFF状态的，若磁卡读写都失败的话，首先检查拨码开关是否处于处于默认的位置。如果，例如读2道一直不成功，其他的读写操作都没问题。则可判定是磁卡的问题。
Q：上电后，出现连续蜂鸣器的“嘀嘀嘀”响
A：该响声为指纹模块上电自检失败，拆开机器，检查指纹模块与主板连接线接触是否不良，重新固定连接线，若故障依旧，则更换指纹模块。
Q：STAR-56II无电不工作
A：先检查外部供电采用的是终端供电5V还是外置12V电压。
是否有工作电压+5V
11
Q：主板时钟有无工作的简单判断方法
A：MCU用的晶振是８Ｍ的，如果程序没有运行起来，则可能晶振没有输出，可用万用表做简单的判断：单片机没工作时，晶振Y1两个脚的电压值大约为2.7V，有工作时大约为1.6V
非接触芯片MFRC531晶振Y3，接用的是13.56MHz的晶振。
非接有工作时晶振两脚为2.65V，没工作时其中一只脚为5V，一只脚为0V
若电压不正常，可更换晶振。
附件：STAR-56版本说明：通用(或特殊版本) II/InSn / N / ID / F / G /R（U）
版本是根据具体的设备配置而定的，具体的配置说明如下：
通用就直接打上通用（特殊版本，如：浙江农行 II/I2S2/N/G/R）
II代表56II型
I代表接触式IC卡
S 代表SAM卡
n代表IC卡、SAM卡的数量（I2S2就代表2个接触式IC卡，2个SAM卡）
N代表非接触式IC卡，
ID代表二代证阅读器模块
F代表指纹模块
WF代表韦尔指纹模块
G代表高抗磁模块
R代表串口版
U代表U口版
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